QualiMIT-B MIT Testador de resistência dobrável para placas de circuito

QualiMIT™ B MIT Folding Endurance Tester para Placas de Circuito Impresso

Produto pai

Testador de resistência dobrável do MIT

Categorias de produtos

Equipamentos de teste de confiabilidade de semicondutores e eletrônicos

Aumente a confiabilidade e a durabilidade de placas de circuito impresso flexíveis com o QualiMIT™ B, o testador de resistência à dobragem da MIT. Projetado especificamente para determinar a resistência à dobragem, este testador submete a amostra a dobras repetidas de 135° enquanto mede a impedância. Com o QualiMIT™ B, avalie com precisão a resistência das placas de circuito impresso, garantindo que elas atendam aos padrões da indústria e tenham um desempenho confiável em condições reais. Melhore a qualidade do produto e a satisfação do cliente com o QualiMIT™ B.

QualiMIT™ B MIT Folding Endurance Tester para placas de circuito impresso Qualitest

QualiMIT-B MIT Testador de resistência dobrável para placas de circuito

O QualiMIT™ B foi projetado para determinar a resistência de placas de circuito impresso flexíveis à dobra. Durante o teste, a amostra é dobrada repetidamente a 135°. A impedância da amostra é então medida.

QualiMIT-B MIT Testador de resistência dobrável para placas de circuito

QualiMIT-B MIT Testador de resistência dobrável para placas de circuito

QualiMIT-B MIT Testador de resistência dobrável para placas de circuito

Especificações técnicas do QualiMIT™ B MIT Folding Endurance Tester para placas de circuito impresso

Agilidade (Speed)	90 cpm、175 cpm
Ângulo de dobramento	135 ° ou 90 °
Largura da cabeça dobrável	19mm
Raio do arco da superfície dobrável	0.38mm
Espessura de fixação da cabeça dobrável	0.25mm，0.5mm，0.75mm，1.0mm，1.25mm
Dimensão (L × P × A)	× 45 30 50 cm
Peso (aprox.)	40 kg
Energia	Monofásico, AC220V, 50/60Hz (ou 110V especificado com o pedido)

Voltar para a página principal

Testador de resistência dobrável do MIT