CMOS Spark OES – QualiSpark™ CMOS
CMOS Spark OES (Optik Emisyon Spektrometreleri), metal kimyasını doğrulamak için hızlı bir yöntem olup, hem rutin QA/QC hem de Ar-Ge iş akışlarını destekleyen modern bir CMOS algılama mimarisine sahiptir. Tam Spektrum Spark OES – QualiSpark™ CMOS, geniş bir optik aralıkla çok bazlı alaşım analizi için tasarlanmıştır.
QualiSpark™ CMOS, bir kıvılcım uyarı standı, argon kontrollü bir kıvılcım odası, bir Paschen-Runge optik sistemi ve tam spektrumlu veri toplama yazılımını bir araya getirir. Sistem, yaygın baz metallerde istikrarlı ölçümler yapmak üzere tasarlanmıştır ve sık sık kalite kontrolü ve erime düzeltmesi yapan operatörler için günlük kullanımı basit tutar.
QualiSpark™ CMOS, kontrollü kıvılcım deşarjı yoluyla metalik numunelerin elementel analizi için tam spektrumlu bir Kıvılcım OES platformudur. Cihaz, deşarj sırasında üretilen karakteristik emisyon çizgilerini yakalar ve kalibre edilmiş eğriler ve kalite kütüphaneleri kullanarak bunları nicel sonuçlara dönüştürür.
Optik platform, geniş dalga boyu aralığını desteklemek için yüksek verimli holografik ızgara ve uzun odak uzaklığına sahip bir düzen kullanır. Sistem ayrıca, üretim ekiplerinin kimyasal ayarlamalar konusunda hızlı kararlar almasına yardımcı olan kalibrasyon, kalite tanımlama ve süreç odaklı hesaplamalar için yazılım işlevlerini de entegre eder.
CMOS Spark OES – QualiSpark™ CMOS Uygulamaları
- Gelen malzeme doğrulaması: Spark OES, malzemeler işleme, döküm, dövme veya ısıl işlem aşamalarına girmeden önce alaşım kalitesini ve kimyasını doğrulamaya yardımcı olur. Bu, benzer görünümlü kaliteler arasındaki karışıklıkları azaltır ve partiler arası izlenebilirliği destekler.
- Ergitme atölyesi ve ergitme kontrolü: Analiz yazılımı, ergitme düzeltme kararları için kullanılan kalite tanımlama ve kimya hesaplamalarıyla ergitme iş akışlarını destekleyebilir. Daha hızlı geri bildirim, üretim sırasında bileşim sapmasının daha sıkı kontrol edilmesini sağlar.
- Metalurji ve dökümhane kalite güvence/kalite kontrolü: QualiSpark™ CMOS, dökme demirler, karbon ve düşük alaşımlı çelikler ve demir dışı alaşımlar için rutin kontrolleri destekler. Laboratuvarlar, Spark OES sonuçlarını partileri serbest bırakmak, tedarikçi sertifikalarını doğrulamak ve uygunluğu belgelemek için kullanır.
- Ar-Ge ve malzeme geliştirme: Ar-Ge ekipleri, alaşım varyasyonlarını karşılaştırmak, safsızlık seviyelerini taramak ve yeni malzeme denemeleri sırasında bileşimi doğrulamak için Spark OES'i kullanır. Geniş spektral kapsama alanı, birçok durumda donanımı değiştirmeden ek elementlere genişlemeyi destekler.
- Havacılık, otomotiv, gemi inşaatı ve makine imalatı: Bu sektörler, güvenlik açısından kritik parçalar ve performans hedefleri için bileşim doğrulamasına ihtiyaç duyar. Spark OES, alaşım kimyasına bağlı hem üretim testlerini hem de arıza analizi iş akışlarını destekler.
CMOS Spark OES – QualiSpark™ CMOS Temel Özellikleri
- UV aralığındaki hafif elementler için kullanılan hatlar da dahil olmak üzere, çok elementli metal analizi için tam spektrumlu optik platform (130–800 nm).
- Paschen-Runge Roland optik düzeni, dalga boyu aralığı boyunca tutarlı çözünürlük sağlayan, sapma kontrollü bir tasarıma sahiptir.
- Kararlı dağılım ve sinyal ayrımı için yüksek verimli holografik ızgara (500 mm odak uzaklığı, 2700 oluk/mm).
- Hızlı örnekleme ve tam spektrum veri işleme için tasarlanmış, CMOS tabanlı yüksek hızlı veri toplama sistemi; güvenilir iletişim için Gigabit Ethernet iletimine sahiptir.
- Uyarlanabilir kaynak girişim bağışıklığı + gürültüyü azaltmak ve iz düzeyinde raporlamayı istikrara kavuşturmak için gerçek zamanlı arka plan düzeltmesi.
- Ortam koşulları veya bakım işlemleri optik durumu değiştirdiğinde tekrarlanabilirliği desteklemek için otomatik piksel kayması kalibrasyonu + akıllı standardizasyon.
- Alaşım matrisleri genelinde esnek uyarım için ayarlanabilir enerji ve frekansa (1000 Hz'e kadar) sahip, tamamen katı hal dijital kıvılcım kaynağı.
- Basınçlı kendi kendini temizleme özelliğine sahip koaksiyel döner kıvılcım standı, kıvılcım standı temizleme iş yükünü azaltır ve daha uzun süreli kesintisiz çalışmayı destekler.
- Optik sistemi kıvılcım standı atmosferinden izole ederek operatör hatasına bağlı kirlenme riskini azaltmaya yardımcı olan lens izolasyon valfi.
- Sürekli arındırma yaklaşımlarına kıyasla, ikmal aralıklarını optimize eden ve argon kullanımını azaltan argon yönetim tasarımı.
- Üretim iş akışları için geliştirilmiş analiz yazılımı; kalite tespiti, ergitme odaklı şarj hesaplaması, karbon eşdeğeri hesaplaması, segmentli eğri değiştirme, bilinmeyenler için otomatik yöntem eşleştirme ve çok dilli kullanıcı arayüzü desteği gibi özellikler içerir.
Broşürde belirtilen standart temel kapsama alanları: Fe, Al, Cu, Ni, Co, Mg, Ti, Sn, Pb, Zn.
CMOS Spark OES – QualiSpark™ CMOS Teknik Özellikleri
| + | QualiSpark™ CMOS |
|---|---|
| spektral aralık | 130 – 800 nm |
| Optik sistem | Paschen-Runge montajlı Roland optik sistemi |
| Izgara / odak uzaklığı | Holografik ızgara, 500 mm odak uzaklığı, 2700 oluk/mm |
| Güç gereksinimleri | 220 V ±10%, tek fazlı, 10 A, 2.5 kVA (110 V de mevcuttur) |
| Boyutlar (G × D × Y) | 500 825 mm x mm x mm 451 |
| Ağırlık | 100 kg |
| Uygulanabilir esaslar | Fe, Al, Cu, Ni, Co, Mg, Ti, Zn, Pb, Sn |
İsteğe Bağlı Yapılandırmalar
Küçük örnek analizi (isteğe bağlı)
- Düzensiz numune uyarım standı, Ø6 mm'den daha büyük uyarım alanına sahip düzensiz parçalar için kullanılır.
- Çapları 3.1 mm ile 6 mm arasında değişen çubuk şeklinde küçük numune kiti.
- Çapları ≤3 mm olan tel/filament küçük numune kiti.
Uzaktan iletim ve görüntüleme (isteğe bağlı)
- Uzak LED ekranlara, terminal yazıcılara, kurumsal ağlara, LIMS'e ve ilgili sistemlere veri çıktısı.